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產(chǎn)品列表 / products

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  • 文體產(chǎn)品檢測(cè)-文具及文教產(chǎn)品測(cè)試
    文體產(chǎn)品種類繁多，根據(jù)用途可分為學(xué)生用品、教學(xué)用具、辦公用具、測(cè)繪用品、繪畫用品、文房四寶、娛樂用品、樂器、體育器材等。廣電計(jì)量文體產(chǎn)品檢測(cè)-文具及文教產(chǎn)品測(cè)試可為各地體育局、教育局、質(zhì)監(jiān)部門、學(xué)校、...
  • 農(nóng)藥成分分析測(cè)試
    通過農(nóng)藥控制病蟲草害是確保 農(nóng)業(yè)高產(chǎn)、糧食安全的重要手段，農(nóng)藥對(duì)防治農(nóng)業(yè)有害生物，保障農(nóng)業(yè)生產(chǎn)安全、 農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量安全和生態(tài)環(huán)境安全具有重要作用。廣電計(jì)量生態(tài)環(huán)境實(shí)驗(yàn)室專注農(nóng)業(yè)投入品檢測(cè)包括肥料、畜禽糞...
  • 氣體分析檢測(cè)-氣體成分質(zhì)譜/色譜定量測(cè)試
    廣電計(jì)量配備專業(yè)的檢測(cè)設(shè)備，提供可靠的氣體分析檢測(cè)-氣體成分質(zhì)譜/色譜定量測(cè)試服務(wù)。
  • TOF-SIMS原位電化學(xué)表征測(cè)試
    廣電計(jì)量TOF-SIMS原位電化學(xué)表征測(cè)試。TOF-SIMS（Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）技術(shù)是一種高分辨率表面成分分析的方法。它通過...
  • SIMS測(cè)試-二次離子質(zhì)譜儀分析
    二次離子質(zhì)譜（SIMS） 是一種具有超高靈敏度和分辨率的固體表面分析技術(shù)。它幾乎能夠分析任何真空下穩(wěn)定的固體，從H到U的全元素及同位素分析，檢出限達(dá)到ppm~ppb級(jí)別。廣電計(jì)量SIMS測(cè)試-二次離子...
  • 熱膨脹檢測(cè)-材料高溫穩(wěn)定性CTE系數(shù)測(cè)試
    復(fù)合材料熱膨脹系數(shù)測(cè)試 復(fù)合材料的熱膨脹系數(shù)（CTE）是衡量其在溫度變化下尺寸穩(wěn)定性的關(guān)鍵參數(shù)，直接影響材料在航空航天、電子封裝、精密儀器等領(lǐng)域的應(yīng)用性能。廣電計(jì)量針對(duì)材料類測(cè)試，提供專業(yè)可靠的熱膨脹...
  • 納米壓痕測(cè)試-材料非破壞性測(cè)試
    納米壓痕測(cè)試技術(shù)是一種非破壞性的測(cè)試方法,不會(huì)對(duì)材料造成明顯的損傷或破壞,因此可以在材料制備和加工過程中進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)和評(píng)估。廣電計(jì)量提供一站式納米壓痕測(cè)試-材料非破壞性測(cè)試服務(wù)。
  • 同步輻射XRD檢測(cè)-原位晶體結(jié)構(gòu)演變分析
    同步輻射XRD檢測(cè)-原位晶體結(jié)構(gòu)演變分析。同步輻射XRD能夠精確測(cè)定晶體的晶格參數(shù)、晶體對(duì)稱性以及原子在晶格中的具體位置。通過對(duì)衍射數(shù)據(jù)的解析，可以獲得材料的晶體結(jié)構(gòu)，為理解其物理和化學(xué)性質(zhì)提供基礎(chǔ)信...
  • 原位紅外測(cè)試-原位透射紅外表征檢測(cè)
    原位紅外測(cè)試是一種利用紅外光譜技術(shù)對(duì)材料在特定條件下進(jìn)行測(cè)試的方法，通過對(duì)樣品表面或內(nèi)部分子振動(dòng)模式的分析，獲取有關(guān)材料組成、結(jié)構(gòu)和性能的信息。廣電計(jì)量配備專業(yè)的檢測(cè)設(shè)備，提供原位紅外測(cè)試-原位透射紅...
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